Бази даних


Наукова періодика України - результати пошуку


Mozilla Firefox Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер
"Mozilla Firefox"

Вид пошуку
Повнотекстовий пошук
 Знайдено в інших БД:Реферативна база даних (6)
Список видань за алфавітом назв:
A  B  C  D  E  F  G  H  I  J  L  M  N  O  P  R  S  T  U  V  W  
А  Б  В  Г  Ґ  Д  Е  Є  Ж  З  И  І  К  Л  М  Н  О  П  Р  С  Т  У  Ф  Х  Ц  Ч  Ш  Щ  Э  Ю  Я  

Авторський покажчик    Покажчик назв публікацій



Пошуковий запит: (<.>A=Petrychuk M$<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 5
Представлено документи з 1 до 5
1.

Petrychuk M. V. 
Conducting Hybrid Nanocomposites Based on Magnetite Nanoparticles [Електронний ресурс] / M. V. Petrychuk, A. A. Pud, Yu. Noskov, S. A. Pud, V. F. Kovalenko // Proceedings of the International Conference Nanomaterials: Applications and Properties. - 2012. - Vol. 1, no. 2. - С. 02NFC23-02NFC23. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/princon_2012_1_2_25
Попередній перегляд:   Завантажити - 352.067 Kb    Зміст випуску     Цитування
2.

Pud S. 
Influence of the electrolyte on transport characteristics of ion-sensitive silicon nanowire field effect transistors [Електронний ресурс] / S. Pud, M. Petrychuk, V. Kovalenko // Вісник Київського національного університету імені Тараса Шевченка. Радіофізика та електроніка. - 2013. - Вип. 2. - С. 32-35. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/VKNU_Rte_2013_2_11
Досліджено вплив електроліту на електрофізичні властивості іонно-чутливих польових транзисторів на базі кремнієвих нанониток за допомогою шумової спектроскопії. Занурення польового транзистора на базі кремнієвих нанониток в розчин електроліту призводить до зсуву пороговоі напруги транзистора завдяки зміні потенціалу верхнього шару діелектрику. Також іони електроліту екранують вплив пасток верхнього шару діелектрику на транспорт в каналі транзистора. Для виключення контактних ефектів і підтвердження достовірності екперименту проведено вимірювання транзисторів з різною довжиною каналу.
Попередній перегляд:   Завантажити - 205.155 Kb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
3.

Pud S. A. 
Effect of gamma radiation treatment on transport properties of silicon nanowire field effect transistors [Електронний ресурс] / S. A. Pud, M. V. Petrychuk, V. F. Kovalenko // Вісник Київського національного університету імені Тараса Шевченка. Серія : Фізико-математичні науки. - 2013. - Вип. 4. - С. 179-182. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/VKNU_fiz_mat_2013_4_38
Попередній перегляд:   Завантажити - 734.59 Kb    Зміст випуску     Цитування
4.

Pavlyuk S. P. 
Nonlinearity of Diffusion Resistors at High-density Current [Електронний ресурс] / S. P. Pavlyuk, V. I. Grygoruk, M. V. Petrychuk, V. M. Telega, S. А. Vitusevich // Journal of nano- and electronic physics. - 2019. - Vol. 11, no. 4. - С. 04032-1-04032-5. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/jnef_2019_11_4_34
Наведено результати експериментального дослідження залежності опору дифузійних резисторів (ДР) від струму, виготовлених за технологією "кремній з діелектричною ізоляцією", з різними геометричними характеристиками, зокрема, довжиною та товщиною, за густини струму до 10<^>5 А/см<^>2. Проведено аналіз одержаних результатів і визначено 3 області на кривих залежності опору резистора від струму R(I). Перша область - омічна ділянка, на якій значення опору дифузійного резистора лінійно залежить від струму. Друга область кривої R(I) характеризується наявністю сильної нелінійності та стрибками і різким збільшенням опору ДР, що пов'язано із виникненням області високого електричного поля в ДР. Третя область залежності R(I) характеризується зменшенням величини опору від струму. Чим товщим є ДР, тим менше пікове значення опору. Показано, що зміна довжини і зменшення товщини дифузійних резисторів призводять до зміни протяжності лінійної ділянки залежності R(I). Чим менша довжина, тим менший опір зразка і тим довша ділянка сталого диференційного опору. Із залежності диференціального опору від струму визначено області лінійності опору дифузійного резистора. Область лінійності опору була визначена як область, де зміна диференціального опору не перевищувала 10 % від його значення за малого електричного поля: найбільша область лінійності резистора має місце у зразку довжиною 2,4 мкм та товщиною 8,4 мкм. Виявлені особливості поведінки опору дифузійного резистора пояснюються зміною його фізичних характеристик в результаті значного самонагрівання.
Попередній перегляд:   Завантажити - 351.855 Kb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
5.

Rudenko R. M. 
Influence of carbon nanotubes on the electrical conductivity of PVDF/PANI/MWCNT nanocomposites at low temperatures [Електронний ресурс] / R. M. Rudenko, O. O. Voitsihovska, V. M. Poroshin, M. V. Petrychuk, N. A. Ogurtsov, Yu. V. Noskov, A. A. Pud // Ukrainian journal of physics. - 2022. - Vol. 67, № 2. - С. 140-148. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Ukjourph_2022_67_2_9
Попередній перегляд:   Завантажити - 1.53 Mb    Зміст випуску     Цитування
 
Відділ наукової організації електронних інформаційних ресурсів
Пам`ятка користувача

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського